離子遷移譜(Ion Mobility Spectrometry ,IMS)技術(shù)是20世紀(jì)70年代出現(xiàn)的一種 分析檢測技術(shù)，80年代該技術(shù)被應(yīng)用于現(xiàn)場分析檢測，它的基本原理是：在大氣壓條件下， 待測樣品被電離形成離子，生成的離子在外加電場力作用下運(yùn)動(dòng)。在弱電場(小于1000V/ cm)的范圍內(nèi)，離子的運(yùn)動(dòng)速度正比于電場強(qiáng)度，ν＝KE，這里ν為離子的速度，E為電場強(qiáng)度， K為離子遷移率，離子的遷移率在弱電場的范圍內(nèi)為常數(shù)，其數(shù)值主要取決于離子的結(jié)構(gòu)、 質(zhì)量、電荷數(shù)和尾吹氣的種類等因素，不同的離子其遷移率的數(shù)值有所不同。這樣，根據(jù)測 量得到的遷移時(shí)間就可以推斷出樣品的成分。同時(shí)依據(jù)濃度的對數(shù)值與峰面積之間呈正比 例的關(guān)系，可以進(jìn)行定量計(jì)算。